1、 具備(bei)A（點掃(sao)描(miao)(miao)）、B（縱向(xiang)掃(sao)描(miao)(miao)）、C（橫(heng)向(xiang)掃(sao)描(miao)(miao)）、多層掃(sao)描(miao)(miao)、Tray-托(tuo)盤掃(sao)描(miao)(miao)，厚度(du)測(ce)量等系列掃(sao)描(miao)(miao)模式。

2、 具(ju)備定量測(ce)分(fen)析功能(neng)，以圖像方式直觀顯(xian)示被(bei)測(ce)件內部缺陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)位(wei)置、形狀和大小(xiao)，并進行缺陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)尺寸和面(mian)積統(tong)計，自動計算缺陷(xian)(xian)(xian)占所測(ce)量面(mian)積的(de)(de)百分(fen)比；具(ju)備缺陷(xian)(xian)(xian)尺寸標識；厚度(du)與測(ce)距等功能(neng)。

3、 具備(bei)圖像著(zhu)色(se)功能，可(ke)根據(ju)相位翻轉自動(dong)著(zhu)色(se)；可(ke)根據(ju)灰度等級手動(dong)著(zhu)色(se)；可(ke)根據(ju)厚度變(bian)化，自動(dong)著(zhu)色(se)；

4、 掃描(miao)軸采用直線電機和光(guang)柵尺，可(ke)以獲得更(geng)高的(de)運動精度(du)，[敏感詞]分辨(bian)率(lv)達0.1μm。

5、 適用于單個器(qi)件的(de)快(kuai)速掃描分(fen)析，也(ye)可(ke)批量放置(zhi)樣品同步進(jin)行(xing)缺陷識(shi)別，快(kuai)速篩(shai)選出不合格(ge)品。

6、 可(ke)兼(jian)容(rong)1~230MHz的超(chao)聲探頭。

7、 檢測軟(ruan)件自主研發，中英文界面，可(ke)根據客戶需求對功能進行(xing)持續升(sheng)級。

行業應用：

適用于水冷(leng)散(san)熱器、IGBT模(mo)組、陶(tao)瓷基板、金(jin)剛(gang)石(shi)復(fu)合材料、碳纖維(wei)復(fu)合材料、電器焊(han)接件、陶(tao)瓷材料、靶(ba)材等領域(yu)。